LRTKレフィクシア株式会社

新製品開発の相談で電子基板の放熱不足を防ぐ6つの検討事項

新製品の電子回路が試作段階では正常に動作していたのに、筐体へ組み込むと温度が上がる、連続運転で突然停止する、量産を想定した部品配置では十分に冷えない。このような問題は、新製品開発で見落としやすい放熱設計に関係している場合があります。電子基板の熱問題は、発熱部品だけで決まるものではありません。電源条件、基板の銅箔構造、部品配置、筐体の材質、取り付け方向、設置場所の温度などが重なって、実際の動作温度が決まります。

放熱不足が開発後半で見つかると、基板の再設計だけでなく、筐体形状や固定方法、製品全体の仕様を見直すことがあります。反対に、新製品開発の相談を始める段階で発熱条件と冷却経路を整理しておけば、試作で何を測定するべきかが明確になり、設計変更の判断もしやすくなります。本記事では、製品開発の担当者が設計会社や製造パートナーと共有しておきたい6つの検討事項を、実務の進め方とともに解説します。

新製品開発で電子基板の放熱設計が重要になる理由

電子基板の温度上昇は、すぐに故障という形で現れるとは限りません。動作はしていても、周囲温度が高い季節だけ制御が不安定になる、電源回路の保護動作が発生する、センサーの測定値が温度によって変動するといった症状として表れる場合があります。一般に電子部品は、それぞれ規定された温度範囲や使用条件の中で性能・信頼性を評価する必要があります。許容温度を超えないことに加え、温度による性能変化や長期間の劣化も視野に入れることが重要です。

特に小型製品では、基板面積を減らし、筐体を薄くし、防水・防じん構造を採用するほど、熱が移動できる経路が限られやすくなります。発熱量が同じでも、開放状態の基板と密閉筐体内の基板では温度が異なります。机上で短時間だけ通電した結果から、屋外や設備内部での連続使用まで判断するのは適切ではありません。電気回路設計、基板設計、機構設計、製造・組立、評価を分けて検討している場合ほど、部門間で熱の前提条件がずれる可能性があります。

そのため、新製品開発を相談する際には「熱くならない基板を作りたい」という依頼だけで終わらせず、どの条件で、どの部品を、どの温度以下に保つ必要があるのかを整理します。詳細な数値がまだ確定していなくても、想定用途と使用環境を共有すれば、放熱対策を設計の初期段階から組み込めます。

検討事項1:使用環境と最大発熱条件を具体化する

最初に確認したいのは、製品が使われる場所と運転の仕方です。室内の空調環境で動作する製品と、日射を受ける屋外装置、熱を持つ機械の内部へ取り付ける製品では、基板周辺の温度条件が異なります。製品仕様として周囲温度の範囲を定める際は、気象上の外気温だけでなく、設置場所の密閉性、周辺機器からの熱、直射日光、換気の有無を考慮します。筐体表面に日射が当たる場合、内部空気温度が外気温を上回ることもあるためです。

次に、どの運転状態で最も発熱するのかを整理します。電子回路の損失は、必ずしも最大電流の瞬間だけで決まりません。電源変換回路では入力電力と出力電力の差が熱となり、変換効率は入力電圧、出力電流、温度などによって変化します。スイッチング素子には導通時と切り替え時の損失があり、通信回路や演算回路も処理内容や稼働率で消費電力が変わります。搭載機能を同時に動かした状態や、電源電圧が仕様範囲の端にある状態も確認対象です。

最大発熱状態が短時間しか続かない場合と、数時間以上継続する場合では、見るべき温度の推移が変わります。起動時、通信開始時、負荷切り替え時などの一時的なピークと、連続運転後に温度が落ち着く状態を分けて考えることが必要です。短いピークは部品内部の熱容量に影響され、長時間の運転では基板や筐体全体の熱の逃がし方が効いてきます。両者を混同すると、測定時間が足りなかったり、逆に実際には起こらない同時負荷を前提としたりする可能性があります。

開発相談では、使用温度範囲、想定する最大稼働率、電源電圧範囲、連続運転時間、筐体の設置姿勢、日射・粉じん・水への対策条件を一緒に伝えます。「通常運転」と「厳しい条件での運転」を文章で定義しておけば、設計担当者が発熱量を概算し、評価時に再現すべき試験条件を決めやすくなります。発熱量が未確定なら、部品候補ごとの消費電力の上限や測定値に不確かさを持たせ、設計を進めながら更新する方法が現実的です。

検討事項2:部品の許容温度と熱の逃げ道を確認する

発熱条件を整理したら、熱がどこから発生し、どの経路を通って外へ出るのかを確認します。電源用の半導体、演算用の半導体、抵抗、コイルなどは、内部で生じた熱を端子、露出した放熱面、基板、周囲の空気へ伝えます。表面が同じ温度でも部品内部の接合部温度はより高い場合があり、基板上の測定温度だけでは安全性を判断できません。部品ごとの仕様書で、許容接合部温度、周囲温度範囲、温度による出力制限、実装条件を確認します。

熱設計の初期検討では、発熱量と熱抵抗を使って温度上昇を概算することがあります。例えば、ある評価条件において部品の発熱が2ワット、接合部から周囲環境までの熱抵抗が1ワット当たり30度であれば、単純計算による温度上昇は約60度です。ただし、部品の熱抵抗は測定基板の銅箔面積や層構成、空気の流れなどに依存します。仕様書の数値を、そのまま完成品の密閉筐体へ当てはめて接合部温度を確定することはできません。概算は設計の危険箇所を抽出するために使い、最終判断は実装条件に近い評価で行います。

ここで重要なのは、最大定格との単純な比較だけではなく、性能を維持できる温度と余裕を見込むことです。高温時に電流能力が下がる部品や、温度の影響で精度が変化する部品があります。また、部品表面から測れる温度と内部接合部の温度は異なるため、仕様書に示された熱特性や、必要に応じた電気的な温度推定方法を検討します。許容値に対してどの程度の余裕を設定するかは、製品寿命、測定誤差、使用条件のばらつきに応じて決めるべきであり、すべての製品に共通する固定値はありません。

放熱対策として、発熱が小さい部品へ変更する、変換効率を見直す、熱を広い銅箔へ伝える、筐体に熱を逃がすといった選択肢があります。対策の順番は「発熱そのものを減らせないか」「熱が通る経路に大きな抵抗がないか」「周囲へ十分に放出できるか」と考えると整理しやすくなります。新製品開発の相談では、主要発熱部品の候補、消費電力の推定根拠、許容温度、基板・筐体までの伝熱経路をまとめて提示し、設計初期に対策の優先順位を合意します。

検討事項3:基板の銅箔・層構成・放熱ビアを設計する

電子基板には電気信号をつなぐ役割に加えて、部品からの熱を周囲へ広げる役割もあります。特に放熱用の金属面を持つ部品では、ランドと銅箔のつなぎ方が熱の逃がしやすさに影響します。限られた面積に細い配線だけで接続すると、熱が基板全体に広がりにくくなることがあります。放熱を想定した銅箔面積、層間接続、基板内層への伝熱を回路設計と基板設計の両方から検討する必要があります。

例えば、表面の放熱ランドと内層の広い銅箔を放熱ビアでつなぐ方法があります。多数の小さな穴を介して熱を他の層へ移動させられますが、穴の配置や径、めっきの状態、製造方法によって効果は変わります。放熱ランドの直下にビアを配置する場合は、はんだが穴へ流れ込んで接合状態に影響する可能性も考慮し、製造先と適切な処理方法を決めます。単にビアを増やせばよいのではなく、実装品質と製造条件を含めて最適化することが重要です。

銅箔を広くする方法にも注意点があります。大電流が流れる電源配線では電気抵抗による発熱を抑えつつ、電流経路や電圧降下を確認しなければなりません。高速信号の伝送、接地の連続性、ノイズ対策、絶縁距離、アンテナ周辺の銅箔制約など、電気的な要求と衝突する場合もあります。また、広い銅箔へ熱を逃がすことで、熱に弱い別の部品まで温めてしまうことがあります。放熱性だけを基準に銅箔を配置するのではなく、回路性能と両立する設計が必要です。

基板の厚さ、積層数、銅箔厚も設計の前提です。放熱のために基板仕様を変更すると、配線可能な層、部品実装の条件、反りや機械的な強度などにも影響します。発熱量が大きい箇所には金属基板や別体の放熱部材を検討するケースもありますが、電気的な絶縁、接合方法、修理性を含めて適否を判断します。開発相談時には、基板外形だけでなく、層構成の自由度、実装面の制約、発熱部品の候補位置を共有することが、手戻りを抑えるうえで有効です。

試作品を設計するときは、銅箔面積や放熱ビアの配置を変更できる余地を残し、温度測定によって効果を比較できるようにします。たとえば基板の向きや取り付け部材が変わると温度分布が変化するため、基板単独で最も低温になった仕様が完成品でも最適とは限りません。設計担当者と製造担当者が早い段階で熱対策と実装上の制約を確認しておけば、試作結果を次の設計改訂に結び付けやすくなります。

検討事項4:筐体と基板の熱的なつながりを検討する

基板上で熱を広げられても、筐体の外へ熱が出ていかなければ製品内部の温度は上がります。放熱不足を防ぐには、基板から空気へ逃がす経路と、部品や基板から固定部材を通じて筐体へ伝える経路を分けて検討することが重要です。通気口を設けられる製品では空気の自然な流れを利用できる場合がありますが、防水や防じんを優先する密閉製品では、空気による熱移動だけに頼りにくくなります。完成品の構造に応じて熱の出口を設計します。

筐体へ熱を伝える場合、部品の放熱面や基板上の伝熱部材と、筐体内面を熱的につなぐ方法があります。しかし、図面上で接しているだけでは十分ではありません。部品高さのばらつき、基板の反り、ねじの締結状態、部材の圧縮量などによって接触状態が変わるためです。熱を伝えやすい柔軟な部材を介在させる場合は、厚さや圧縮の許容範囲、長期間の使用による変化を確認します。電気的に導通させてはいけない箇所では絶縁性も欠かせません。

筐体の材質と表面形状も、熱の広がりや外部への放出に影響します。金属筐体は熱を伝えやすい一方、熱い部分が触れられる位置に生じる可能性があります。樹脂筐体では基板から筐体へ熱を伝える経路を別途設ける必要がある場合がありますが、材料や構造によって挙動は異なります。安全に触れられる表面温度、周辺部品への影響、取り付け先への伝熱など、基板温度以外にも評価すべき点があります。筐体の外側に熱を逃がした結果、使用者や隣接設備への影響が増えることも避けなければなりません。

さらに、筐体の取り付け姿勢は自然対流に影響します。試験台に水平に置いたときと、壁面へ縦向きに取り付けたときでは、内部の暖かい空気の移動が変わります。直射日光を受ける面、外側から断熱材に覆われる可能性、設備内部の換気条件も確認します。防水性を確保した後から通気口を追加することは、保護性能や構造を大きく見直す要因となるため、設計初期に優先条件を整理することが重要です。

新製品開発を外部へ相談する際は、筐体の外形寸法や材質の希望だけでなく、設置方向、固定位置、触れる可能性のある面、通気の可否、組立方法を共有します。熱対策用の接触部材を採用するなら、組立手順と検査で接触状態を再現できるかも確認します。試作品で冷却できても、量産の組立ばらつきで性能が変わる設計では十分とはいえません。筐体設計と基板設計を同時に進め、再現性のある放熱経路を確保することがポイントです。

検討事項5:部品配置と周辺回路への熱影響を抑える

電子基板のレイアウトでは、発熱部品を置ける場所と、熱の影響を受けやすい部品を置く場所を区別します。電源回路や演算回路などの発熱源を狭い範囲に集中させると、その周辺の基板温度が局所的に高くなる場合があります。反対に、発熱源を分散することで局所的な温度上昇を抑えられる場合もありますが、配線長や電気的損失が増えれば逆効果になることもあります。熱と電気の両面から配置を決める必要があります。

特に温度の影響を受けやすいのは、精度が要求される基準電圧回路、測定回路、センサー、発振回路などです。これらを高温の電源部品のすぐ近くへ配置すると、許容温度範囲内でも温度ドリフトが製品性能に現れることがあります。また、コネクターや樹脂部品、接着部材、蓄電部品などは、それぞれの使用温度条件を確認しなければなりません。放熱設計は半導体の破損を防ぐためだけではなく、製品に要求される測定精度や動作安定性を守るためにも必要です。

部品配置の検討では、熱い部品と熱に弱い部品の距離だけでなく、間にある銅箔や空気の流れ、筐体との接触位置を見ます。熱を拡散する広い接地面が、精密な測定回路へ熱を運ぶ経路になる場合もあります。熱源を避けて配置したとしても、密閉された狭い空間では内部空気を介して温まることがあります。そのため、単純な距離の確保だけで対策完了とせず、実際の温度分布や性能変化を評価することが大切です。

一方、電源部品を離しすぎると、電流経路が長くなり、電圧降下、寄生成分、電磁的な影響を増やすおそれがあります。高周波回路では配線長や接地構造に強い制約があるため、放熱の都合だけで部品を移すと性能が崩れる可能性があります。レイアウト担当者には、発熱量、許容温度、温度依存性が大きい回路、配線上動かせない部品を明確に伝え、複数の制約を同時に検討してもらいます。

開発の初期段階では、基板の各領域を「高発熱部」「温度に敏感な部位」「筐体へ熱を渡せる位置」などの役割で整理すると、機構担当者とのすり合わせが進みます。試作後は温度の高い箇所だけでなく、センサー出力や通信品質など温度変化で問題が生じ得る性能も確認します。熱源の位置を変更した効果を、部品温度と製品機能の両方から判断できる状態にしておくことが、根拠のある設計改善につながります。

検討事項6:試作品の温度測定と判定基準を整える

放熱設計が妥当かどうかは、完成品に近い状態で温度を測定して判断します。基板を机に置いたままの通電試験だけでは、筐体内の熱のこもり方や取り付け部材を通じた熱移動を再現できません。評価に使う試作品は、できる限り実際の基板固定方法、筐体構造、配線状態、設置姿勢を反映させます。試験時の周囲温度や電源条件、ソフトウェアの動作内容も記録し、再試験時に条件を合わせられるようにします。

温度測定には接触式の温度センサーや赤外線を利用した測定方法などがあります。接触式ではセンサーの取り付け位置や固定方法が測定値に影響する場合があります。赤外線式では表面の放射率や反射の影響を受けるため、見えている温度を無条件に実温度とみなすことはできません。また、部品表面温度と内部接合部温度は異なります。熱特性の資料に基づく推定や、部品自身の温度検出機能が利用できる場合の確認を組み合わせ、どの位置の何の温度を測っているのかを明確にします。

評価では、起動直後から温度が落ち着くまでの時間変化を確認し、必要に応じて負荷の切り替え時のピークも調べます。通常運転だけでなく、高い周囲温度、負荷が大きい状態、電源条件の端、設置姿勢の違いなど、設計時に決めた厳しい条件を再現します。すべての条件を無制限に組み合わせるのではなく、実際に起こり得る組み合わせを特定し、発熱上の厳しさと安全上の重要度から優先順位を付けます。評価時間は、基板だけでなく筐体まで温度が変化する時間を踏まえて設定します。

合否判定には、部品の許容温度、製品の性能仕様、使用者が触れる部分の温度、保護動作の有無などを含めます。測定値が許容値より低いだけではなく、測定誤差、環境差、部品差、組立ばらつきを考慮した余裕を設けることが大切です。何度以下なら合格かという基準は、対象部品の仕様と製品の使用条件に合わせて個別に決めます。保護機能が働く場合も、その動作によって製品の必須機能や安全性がどうなるかを確認する必要があります。

また、改善前後の比較では、一度に多くの条件を変えすぎないことが重要です。銅箔の変更、放熱部材の追加、筐体材質の変更を同時に行うと、どの対策が有効だったのか判断しにくくなります。試作段階で測定位置、試験条件、結果、設計変更の履歴をそろえれば、後から同じ問題が発生した際にも原因を追いやすくなります。量産前には部品の代替、基板製造条件、組立部材の変更などによって放熱性能が変わらないかを確認し、必要な再評価の条件を決めておきます。

新製品開発の相談時に伝えるべき情報と進め方

放熱の問題は、相談先へ回路図だけを渡しても十分に検討できない場合があります。新製品の用途、想定する周囲温度、運転時間、電源条件、必要な性能、基板寸法、筐体の形状と材質、密閉の要否など、熱に関係する条件をまとめて共有することが出発点です。すでに試作基板があるなら、発熱部品の位置、消費電力の測定値、温度の測定条件、異常が起きたときの運転状態も伝えます。温度が高いという印象だけでなく、どの条件でどの症状が発生したかを示すことが、原因分析の助けになります。

相談の進め方としては、まず仕様上の制約を整理し、次に発熱量の概算と伝熱経路の検討を行い、その結果を基板・筐体の基本設計に反映します。試作品では温度だけでなく、測定精度や通信などの必要機能も検証し、結果に応じて改善します。熱対策によって筐体が大きくなる、配線が変わる、組立手順が増えるといった影響があるため、設計の早い段階から回路、基板、機構、製造の担当者が共通の条件で協議することが望まれます。

相談先を比較する際には、放熱部材を提案できるかだけでなく、部品損失の見積もりから基板の銅箔設計、筐体との接触構造、温度評価までをつなげて説明できるかを確認します。試験で不合格になった場合に、測定結果から原因を切り分け、次の設計変更を提案する体制も重要です。設計を任せる範囲と、発注側で用意する測定設備や試験環境を事前に明確にすれば、責任範囲の行き違いを防ぎやすくなります。

さらに、量産を見据えるなら、設計図面に必要な放熱条件が表現されているかも確認します。放熱シートの種類や厚さ、締結方法、基板と筐体の接触範囲、検査すべき寸法などが作業者任せになっていると、試作品と同じ温度特性を再現できないおそれがあります。温度試験に合格した設計を、組立工程でも再現できるようにすることが、新製品開発の相談で見落としたくない視点です。

まとめ:基板単体ではなく製品全体で放熱を成立させる

電子基板の放熱不足を防ぐには、発熱部品に対策を追加するだけでなく、使用環境、発熱量、部品の温度限界、基板の銅箔構造、筐体への伝熱、部品配置、試作評価をつなげて検討する必要があります。放熱に問題があるかどうかは、基板単体の見た目や短時間の通電確認では判断できません。製品が実際に使用される条件を定義し、熱の逃げ道を設計し、試作品で測定して確かめる流れが重要です。

新製品開発の相談では、すべての条件を最初から確定させる必要はありません。ただし、未確定の条件をそのままにせず、仮定した数値、確認が必要な項目、試作後に決める事項を区別しておくことが大切です。回路、基板、筐体、製造の担当者が同じ条件を共有すれば、問題が見つかったときも対策を検討しやすくなり、設計変更の根拠を残せます。

屋外設備や施工現場で使う新製品では、設計上の温度条件に加えて、現地での取り付け方向、周辺設備、日射を受ける位置などを記録しておくことも役立ちます。LRTK Phoneは、現場写真・位置情報・施工記録の管理に活用できる自社プロダクトです。設置状況を位置情報と写真にひも付けて整理することで、開発時に想定した使用環境と実際の現場条件を照合する際の記録を残しやすくなります。温度そのものの判定には適切な測定器と評価手順を用いながら、現場条件の記録管理にはLRTK Phoneを活用し、設計から導入後の確認まで情報をつなげていきましょう。

ものづくりの次の一歩を、
相談から始めてみませんか。

加工・製造の外注先や共同開発のパートナー探しに。大田区産業振興協会の受・発注あっせん相談サービスをご利用いただけます。

ものづくり 外注先を探す。公益財団法人大田区産業振興協会の受・発注あっせん相談。無料でプロに相談!公的機関だから安心!
ものづくりの協力先探し大田区産業振興協会無料相談