彩色彫刻のTLS計測で距離設定が重要な理由
寺社建築の彫刻、彩色された欄間、仏像、装飾部材などを三次元記録するとき、地上型レーザースキャナーであるTLSは、対象に触れずに広い範囲の形状を取得できる有力な手段です。建物や展示空間を含む全体形状と、彫刻の位置関係を同じ点群の中で記録しやすいことも大きな利点です。 ただし、TLSを対象物に近づければ、必ず微細な凹凸が鮮明になるわけではありません。計測距離を短くすると対象表面での点間隔は小さくなりますが、機器ごとの最短測定距離、レーザーの照射径、焦点条件、視野、測距ノイズ、安全な作業空間などの影響を受けます。近すぎる位置では彫刻全体が視野に収まらず、突出部の裏側や深い彫り込みに死角が生じることもあります。 反対に、計測距離が長すぎると、角度方向に隣り合う測定点の表面上の間隔が広がります。細い毛筋、彫刻刀の跡、彩色層の起伏、剥落境界の段差などに対して点の数が不足すると、本来存在する凹凸が点群上で表現されません。この状態は後から補間しても回復できません。取得していない形状を点群処理で正確に復元することはできないため、現地での距離設定が記録品質を左右します。 彩色彫刻では、幾何形状だけでなく表面の光学的性質にも注意が必要です。暗い顔料、金属箔、光沢のある塗膜、半透明の表面層、経年による汚れや粉化は、レーザー光の戻り方に影響します。同じ距離で計測しても、色や仕上げによって点の取得率や測距値のばらつきが変わる可能性があります。距離設定は単なる機器配置ではなく、必要な凹凸寸法、表面状態、死角、安全性、点群処理までを含む計測設計として考える必要があります。 また、TLSの分解能設定と成果物の精度は同じ意味ではありません。高密度に点を取得しても、測距ノイズ、位置合わせ誤差、振動、入射角、表面反射の影響が大きければ、微細凹凸を信頼できる形で残せないことがあります。重要なのは点数を増やすことではなく、記録したい形状に対して十分な点間隔と測定品質を確保し、その条件を検証可能な形で記録することです。
距離設定の前に決める記録対象と要求精度
適切な距離を決めるには、最初に「何を残したいか」を具体化します。彩色彫刻という言葉だけでは、必要な点群密度を決められません。彫刻全体の輪郭や部材の変形を記録する場合と、彫刻刀の跡や彩色層の小さな浮きを記録する場合では、求められる計測条件が異なります。 まず、対象とする最小凹凸の大きさを仮定します。たとえば、数センチメートルの彫り込みを記録するのか、数ミリメートルの稜線を記録するのか、それより細かな表面変化まで識別したいのかを分けて考えます。ここでいう大きさには、凹凸の高さだけでなく、表面上の幅も含まれます。高さが大きくても幅が極端に狭ければ、点が当たらずに形状を取り逃す可能性があります。 記録目的も明確にします。現況図の作成、修理前後の比較、部材配置の確認、変形の監視、展示用三次元モデルの作成では、必要な品質が異なります。修理前後の比較を行う場合は、単年度の見栄えだけでなく、異なる時期の点群を同じ基準で比較できることが重要です。計測距離、角度分解能、計測位置、基準点、位置合わせ方法を記録しておかないと、後年の差が実際の変化なのか計測条件の違いなのか判断しにくくなります。 要求精度を決める際は、点間隔と測距精度を分けて扱います。点間隔は、対象表面にどの程度細かく点が並ぶかを示します。測距精度は、それぞれの点が距離方向にどの程度ばらつく可能性があるかを示します。点間隔が小さくても測距値のばらつきが対象の凹凸と同程度であれば、その凹凸を安定して識別するのは困難です。 さらに、点群の位置合わせ誤差も考慮します。複数の計測位置から取得した点群を統合する場合、各点の測距品質が良くても、位置合わせが不十分であれば表面が二重になったり、稜線が厚く見えたりします。微細凹凸を評価する場合は、単一計測位置内の局所的な形状再現性と、統合後の点群品質を別々に確認する必要があります。 文化財の計測では、保存管理上の条件が距離設定より優先されることもあります。対象への接触、目印の貼付、照明の追加、足場の設置、建具の開閉などは、所有者や管理者、保存修復の担当者と協議しなければなりません。計測機器が非接触式であっても、機材の搬入、三脚の転倒、作業者の接近、ケーブルの引っ掛かりなどの危険がなくなるわけではありません。要求精度を高く設定するほど接近が必要になるとは限らないため、安全と保存条件を守れる範囲で計測方法を選びます。
距離設定1 最小凹凸から必要な点間隔を逆算する
最初の距離設定は、記録したい最小凹凸から必要な表面上の点間隔を逆算することです。機器の最高密度設定をそのまま使用するのではなく、対象と成果物に必要な密度を先に決め、その密度を確保できる距離を求めます。 一つの凹凸に測定点が一つだけ当たっても、その点が凹凸を表しているのか、ノイズや異常値なのかを判断しにくい場合があります。凹部の入口、斜面、底部、反対側の斜面を形状として捉えるには、凹凸の幅に対して複数の点が必要です。ただし、必要な点数は対象の形状、測距ノイズ、解析方法によって変わるため、「凹凸幅の何分の一なら常に十分」と一律には決められません。 実務では、記録対象となる最小幅より十分に小さい点間隔を仮の目標にし、試験計測で識別可能性を確認します。たとえば、表面上の幅が数ミリメートルの彫り跡を評価したい場合、点間隔も数ミリメートルでは不足する可能性があります。点が彫り跡の両側だけに配置され、内部に入らないことがあるためです。目標点間隔を細かくして複数点を確保し、断面上で形状が連続的に確認できるかを見ます。 点間隔の検討では、水平と鉛直の両方向を確認します。機器の設定表示が角度間隔、解像度倍率、所定距離での点間隔など、どの形式になっているかを把握する必要があります。表示上は同じ密度でも、対象面がスキャナーに正対していないと、表面上の実際の点間隔は広がります。特に彫刻の側面や奥まった部分では、見かけ上の密度が低下します。 また、平均的な点密度だけで判断しないことが重要です。彫刻正面では十分な点が取得できても、鼻先、衣文の稜線、植物文様の縁、部材の側面などでは点が疎になることがあります。計測計画では、正面の代表距離だけでなく、最も遠い面、斜めに見える面、深い凹部の入口でも目標点間隔を満たせるかを確認します。 最小凹凸から距離を逆算する際は、成果物の処理方法も考えます。点群をそのまま断面化する場合と、三角形の面に変換する場合では、必要な密度や欠測への耐性が異なります。面を生成すると滑らかに見えることがありますが、それは実物の微細凹凸を正確に復元したことを意味しません。補間範囲が広いと、凹部が埋められたり、鋭い稜線が丸められたりする可能性があります。 この距離設定で決めるべきものは、単なる「近い位置」ではありません。記録対象となる最小形状、その形状を判定するための目標点間隔、対象面の傾きによる密度低下、使用する処理方法をまとめて、許容できる距離範囲として整理します。その範囲が使用機器の測定条件を満たさない場合は、TLSだけで微細形状を記録しようとせず、近接計測の併用を検討します。
距離設定2 角度分解能とレーザーの広がりから標準距離を決める
TLSでは、隣り合うレーザー照射方向の角度差が同じであれば、対象までの距離が長くなるほど表面上の点間隔が広がります。角度間隔をθ、計測距離をRとすると、対象面がほぼ正対している場合の点間隔は、おおむねRとθの積で見積もれます。厳密な値は角度の扱いや対象面の向きによって変わりますが、標準距離を検討するための初期計算として利用できます。 たとえば、角度間隔が0.1ミリラジアンで、対象までの距離が5メートルであれば、単純計算上の点間隔は約0.5ミリメートルです。ただし、この値は点の中心間隔を示す目安であり、0.5ミリメートルの凹凸を同じ精度で測れることを保証するものではありません。実際の形状再現性には、測距値のばらつき、照射径、表面反射、入射角、位置合わせなどが影響します。 標準距離を決めるときは、点の中心間隔だけでなく、対象表面に当たるレーザーの照射径も確認します。レーザー光には一定の初期径と広がりがあり、距離が長くなるほど照射範囲が大きくなる傾向があります。照射範囲の中に凸部と凹部、異なる色、金属箔と顔料面などが同時に入ると、返ってくる信号が混在し、稜線付近で測距値が不安定になる可能性があります。 微細凹凸を残すには、点の配置が細かいだけでなく、照射径が対象形状に対して十分に小さいことが望まれます。高密度設定によって測定方向を細かくしても、照射径そのものが大きければ、細い溝や鋭い縁を明瞭に分離できない場合があります。そのため、機器資料に示されたビーム径や広がり方を確認し、想定距離での照射径を見積もります。数値の定義や測定条件は機器によって異なるため、単純な機器間比較ではなく、実際の対象に近い試験片や目立たない範囲で確認することが大切です。 標準距離は、対象の中央だけを基準にしないようにします。彩色彫刻には奥行きがあるため、スキャナーから最前面までの距離と、最も奥の面までの距離が異なります。中央部で目標点間隔を満たしていても、奥まった面では点間隔と照射径が大きくなります。標準距離を決めるときは、対象の奥行きを加えた最遠部でも必要条件を満たすかを確認します。 計測位置を決めた後は、床上に距離の基準位置を記録し、三脚中心や機器中心の位置を測ります。ただし、文化財施設の床や周辺部材に直接印を付けてよいとは限りません。許可された仮設基準や既存の測量基準を使い、再計測時に同じ条件を再現できるようにします。機器高、対象との水平距離、視準方向、角度分解能、取得時刻なども記録すると、後日の比較に役立ちます。 標準距離は一つの固定値ではなく、目標点間隔と照射径を満たす中心的な距離として設定します。その周囲に許容範囲を設け、実際の現場条件に応じて調整します。距離だけを厳密に合わせても、対象面への入射角や死角が悪ければ品質は上がらないため、次の距離設定と組み合わせて判断します。
距離設定3 最短距離を安全性と測定可能範囲から決める
微細凹凸を取得したいと考えると、機器をできるだけ近づけたくなります。しかし、近距離には機器性能と文化財保護の両面で限界があります。最短距離は、使用機器が距離を測定できる下限ではなく、安定した点群を安全に取得できる距離として設定します。 機器には測定可能な距離範囲があり、極端な近距離では測距できない、点が欠ける、精度が安定しないなどの可能性があります。測定可能とされる範囲内でも、対象全体が視野に収まるとは限りません。彫刻に近づきすぎると、一回の計測で取得できる範囲が狭くなり、計測位置の追加が必要になります。位置数が増えると、位置合わせ誤差や作業時間も増加します。 最短距離では、三脚や機器が文化財に接触しない安全余裕を確保します。計測中に人が通る場所では、振動や転倒の危険も考えなければなりません。狭い堂内や収蔵空間では、作業者が機器の後方を通る際に三脚へ触れる可能性があります。安全余裕は対象までの水平距離だけでなく、三脚脚部、機器の回転範囲、操作する人の立ち位置、ケーブル類の配置を含めて決めます。 近距離では視差が大きくなるため、突出部の背後が隠れやすくなることにも注意します。正面から近づくほど中央部の点間隔は細かくなりますが、深い彫刻の側壁や裏側を一方向から取得することはできません。近づくことによって欠測が増える場合は、少し距離を取って全体を押さえたうえで、左右や斜め方向から補助計測を行う方が合理的です。 彩色彫刻では、近距離でレーザーが当たることに対する保存上の確認も必要です。一般的な測量用TLSは非接触で計測しますが、文化財の材質、表面状態、使用機器の光源特性、照射条件に関する判断を計測担当者だけで行うべきではありません。特に脆弱な彩色層、変色への懸念がある材料、保存処置中の対象では、管理者や保存修復の専門家と計測条件を確認します。 最短距離を決める試験では、対象の代表部分を複数の距離から取得し、点の欠落、測距値のばらつき、稜線の厚み、反射強度の偏りを比較します。最も近い距離が最良とは限りません。少し離れた位置の方が安定した返りを得られ、全体の位置関係も捉えやすいことがあります。 実務上の最短距離は、測定可能範囲、安全離隔、視野、死角、点群の安定性をすべて満たす位置です。この距離より内側には機器を置かないという管理線を決めておくと、現場で精度を求めるあまり不用意に接近することを防げます。
距離設定4 奥行き差と入射角を考慮して最長距離を制限する
彩色彫刻は平面ではなく、複雑な奥行きを持つ立体物です。正面の突出部に合わせて距離を設定しても、奥に入り込んだ面、上向きや下向きの面、側面では計測条件が変わります。そのため、最長距離はスキャナーから対象中心までの距離ではなく、同じ計測位置から取得する最遠面までの距離として管理します。 角度分解能が一定の場合、最遠面では点間隔が広がります。対象に大きな奥行きがあると、最前面では十分な密度でも、背面に近い部分では目標点間隔を超える可能性があります。距離設定2で求めた標準距離に対象の奥行きを加え、最遠部での点間隔を再計算します。 入射角も重要です。レーザーが対象面に対して斜めに当たると、表面上では測定点の間隔や照射範囲が一方向に広がります。正面では円に近い照射範囲でも、斜面では細長い範囲として作用します。これにより、細い溝をまたいで照射したり、稜線の両側からの反射が混ざったりする可能性があります。 斜めの面では、返ってくる信号が弱くなり、取得率が下がることもあります。暗い顔料や光沢面など、もともと戻りが不安定になりやすい表面では、距離と入射角の影響が重なります。最長距離を決めるときは、点間隔だけでなく、有効な点が連続して取得できるかを試験点群で確認します。 金属箔や光沢のある塗膜では、正対に近い方向でも反射の仕方によって欠測や異常値が生じる可能性があります。逆に、角度を変えることで取得できる部分もあります。ただし、単に反射強度が高い、または低いことだけを理由に形状点を採用すると、誤った表面を形成するおそれがあります。異なる方向から取得した点群を比較し、同じ形状が再現されるかを確認することが必要です。 最長距離の管理では、対象を一枚の正面として扱わず、前面、奥面、側面、上面、下面に分けて見ます。どの面が標準計測位置から最も不利になるかを確認し、その面が許容条件を超える場合は、標準位置を無理に遠ざけたり高密度設定だけで補ったりせず、補助計測位置を追加します。 最長距離を制限する目的は、すべての部分を同じ距離から計測することではありません。必要な点間隔、照射径、入射角、取得率を満たせない領域を早い段階で見つけ、別の計測方向へ割り当てることです。これにより、正面の点数だけが多く、奥まった重要部が欠けるという偏りを防げます。
距離設定5 補助計測位置と重複範囲の距離をそろえる
複雑な彩色彫刻を一つの位置から完全に記録することは困難です。突出部の裏、深い彫り込み、部材の上下、側面には死角が生じます。そこで左右、斜め上、斜め下などに補助計測位置を設けますが、位置を増やすだけでは良好な統合点群になりません。各位置から対象までの距離と、点群が重なる範囲の品質をそろえることが重要です。 補助位置が標準位置より大幅に遠い場合、その点群だけ点間隔が粗くなります。逆に極端に近い場合は、局所的な点数は増えても視野が狭くなり、標準点群との共通形状が不足します。位置合わせに使える重複領域が少ないと、局所的な凹凸や似た文様を誤って対応させる危険があります。 補助位置では、標準位置と同一距離にこだわる必要はありませんが、重複領域で同程度の形状情報が取得できる距離を選びます。角度分解能を変える場合は、距離との組み合わせによって表面上の点間隔が大きく変わらないように調整します。設定名だけをそろえるのではなく、対象表面での実際の点間隔をそろえることが大切です。 重複範囲には、平坦な面だけでなく、方向を判定しやすい立体的な特徴を含めます。ただし、脆弱な文化財表面へ位置合わせ用の目印を直接貼り付けることは避け、必要な場合は管理者の承認を得た独立標識や周辺の安定した構造を利用します。対象そのものの形状を使って位置合わせする場合も、彩色の模様ではなく幾何形状を主に評価します。色画像の見た目が一致しても、三次元位置が正しいとは限りません。 補助位置の距離は、死角を解消したい面に対する入射角も含めて決めます。正面位置から見えなかった側面に点を当てるため、単に左右へ移動するのではなく、その面ができるだけ見通せる位置を探します。移動量が小さすぎると死角が残り、移動量が大きすぎると共通領域が不足します。現場では低密度の事前走査を利用し、欠測領域と重複範囲を確認してから高密度計測へ進むと効率的です。 複数位置の点群を統合した後は、重複部分の厚みを確認します。異なる位置から取得した点が一枚の表面として重なるか、二層に分かれていないか、稜線の位置が一致しているかを断面で見ます。平均誤差だけが小さくても、一部の重要な彫刻面でずれが生じている可能性があります。全体の統計値と局所断面の両方を確認します。 五つ目の距離設定で目指すのは、単一位置の最高密度ではなく、複数方向からの点群を矛盾なく統合できる配置です。標準位置と補助位置の距離、点間隔、入射角、重複範囲を一組として計画することで、微細凹凸を残しながら死角を減らせます。
現場で距離設定を確定する試験計測の進め方
机上計算で求めた距離は、現場で必ず検証します。彩色彫刻は材質や表面状態が均一ではなく、形状も複雑だからです。機器資料から点間隔や照射径を推定できても、暗色部、金属箔、光沢部、深い陰影部で同じ品質が得られるとは限りません。 最初に対象と周辺を低密度で取得し、全体形状、奥行き、作業可能範囲、死角を確認します。この段階では最終成果用の密度を求めるより、標準位置と補助位置を決めるための情報を集めます。通路、床の耐荷重、立入制限、展示ケース、仮設物など、機器配置に関係する条件も記録します。 次に、彩色と形状の特徴が異なる代表部分を選び、複数の距離から試験計測します。代表部分には、細い彫り筋、鋭い稜線、深い凹部、暗色部、光沢部、剥落境界などを含めます。ただし、保存上の懸念がある箇所を試験対象にする場合は、管理者や保存修復担当者の判断を優先します。 試験点群は、画面上の色付き表示だけで判断しません。色画像が鮮明でも、その下の点群が粗い場合があります。反射強度表示、色を外した形状表示、陰影表示、局所断面などを切り替え、点の連続性とばらつきを確認します。穴が補間で埋まっていないか、稜線が厚くなっていないか、凹部の底まで実測点が入っているかを見ます。 距離ごとの比較では、同じ範囲を同じ縮尺で表示します。表示倍率を変えると、粗い点群でも滑らかに見えることがあります。点の大きさや面生成条件もそろえ、距離以外の条件による見え方の差を減らします。必要であれば、対象に接触しない独立した試験物を近くに配置し、既知寸法との比較に使います。 試験結果から標準距離、最短距離、最長距離、補助位置の距離を確定し、計測計画に反映します。距離は実測値として記録し、機器設定、機器高、計測方向、周辺環境、対象表面の状態も合わせて残します。単に「高密度で計測」と記録するだけでは、後年に条件を再現できません。 計測中は、機器が予定位置から動いていないか、床や足場の振動がないかも確認します。人の通行、扉の開閉、仮設床のたわみなどは、微細形状の取得に影響する可能性があります。長時間の高密度計測では周辺状況が変化しやすいため、開始時と終了時に基準となる周辺形状を確認すると、異常の発見に役立ちます。
微細凹凸を残すための点群処理と品質確認
適切な距離で計測しても、点群処理の方法によって微細凹凸が失われることがあります。特に注意したいのが、強い平滑化、過度な間引き、広い欠測部の自動補間、一律の外れ値除去です。彩色彫刻の細い突起や剥落境界は、処理条件によってノイズと判定される可能性があります。 最初に生の取得データを保存し、処理後データと分けて管理します。処理のたびに元データを上書きすると、除去された点や変更された設定を確認できません。計測位置ごとの原データ、位置合わせ済み点群、編集済み点群、面生成データ、表示用軽量データを区別し、処理履歴を残します。 位置合わせでは、全体の誤差指標だけでなく、彫刻付近の局所的な整合を確認します。広い壁面や床面がよく一致すると全体指標は良好に見えますが、彫刻面で数値以上のずれが生じている場合があります。重要部分を複数箇所選び、異なる計測位置の点を色分けした断面で確認します。 外れ値除去を行う場合は、彩色や材質によって点のばらつきが異なることを考慮します。一定距離以上離れた点を一律に削除すると、薄い突出部や鋭い稜線が失われることがあります。まず異常値が生じた原因を確認し、対象表面の実形状と区別できる範囲で処理します。判断が難しい部分は、削除せず属性や別レイヤーで管理する方法もあります。 点群から面を生成するときは、三角形の大きさや穴埋め範囲を確認します。点が取得できていない深い凹部を自動的に面で閉じると、実物にはない表面が作られます。保存記録として利用する場合は、実測部分と補間部分を区別できるようにし、補間条件を記録します。 品質確認では、点密度だけでなく、局所的な点間隔、測距値のばらつき、欠測率、位置合わせの残差、断面形状の再現性を見ます。微細凹凸の代表部分について、複数方向の点群で同じ形状が確認できれば、単一方向だけの突発的な異常値と区別しやすくなります。 修理前後や経年変化を比較するときは、差分表示の色だけで変化を断定しないことが重要です。差分には実際の形状変化のほか、距離設定、入射角、点密度、位置合わせ、表面反射、処理条件の違いが含まれます。想定する変化量が計測と統合の不確かさより十分に大きいかを検討し、変化の可能性として慎重に評価します。
TLSと近接計測を組み合わせる判断基準
TLSは、彩色彫刻と建物、壁面、柱、床、周辺部材の位置関係を広い範囲で記録することに適しています。一方、極めて細かな彫刻刀の跡、彩色層の微小な浮き、細い亀裂などは、使用するTLSの照射径や測距性能では十分に分離できない場合があります。 この場合、TLSの密度設定を上げ続けるだけでは解決しません。点の中心間隔を狭くしても、照射径や測距ノイズが対象の凹凸に対して大きければ、必要な形状情報は得られないためです。試験計測で代表的な凹凸を安定して識別できない場合は、より近接した三次元計測や高解像度写真による記録など、目的に合う方法を併用します。 併用する場合、TLSは全体座標の骨格として利用できます。近接計測で取得した局所モデルをTLS点群へ統合すれば、細部形状と建物内の位置関係を一つの座標体系で扱いやすくなります。ただし、異なる計測方法のデータを合わせる際は、縮尺、座標系、単位、基準点、位置合わせ誤差を確認しなければなりません。 画像による色の記録とレーザー点群の形状記録も分けて考えます。TLSに付属する画像で点群を着色できても、その色が保存科学上の色測定に相当するとは限りません。照明、露出、反射、撮影距離、周囲の色かぶりによって見え方が変わります。形状の記録、色彩の記録、材料調査は、それぞれの目的と精度を定めて実施します。 近接計測を追加するかどうかは、成果物の用途から判断します。全体配置や大きな変形の把握が目的であれば、TLSだけで必要条件を満たせることがあります。修理判断に関係する微小な剥離や亀裂を評価したい場合は、TLS点群だけに頼らず、保存修復担当者による目視調査や別の記録方法と組み合わせる必要があります。 重要なのは、TLSで取得できる範囲を過大評価しないことです。取得した点数が多いことと、微細凹凸が正確に記録されていることは同じではありません。標準距離、最短距離、最長距離、補助位置を試験計測で検証し、それでも要求を満たさない部分を近接計測へ切り分けることで、信頼性の高い文化財記録につながります。
まとめ
文化財TLS計測で彩色彫刻の微細凹凸を潰さずに残すには、単純に機器を近づけたり、最高密度の設定を選んだりするだけでは不十分です。最初に記録したい最小凹凸と成果物の用途を定め、必要な表面上の点間隔を逆算する必要があります。 そのうえで、角度分解能とレーザーの照射径から標準距離を決め、機器性能、安全離隔、視野、死角を考慮して最短距離を設定します。さらに、彫刻の奥行きと入射角を踏まえて最長距離を制限し、見えない面には適切な距離の補助計測位置を設けます。この五つを一体的に計画することで、正面だけが高密度で、側面や凹部が欠ける状態を避けやすくなります。 距離設定は机上計算だけで確定せず、対象の代表部分を使った試験計測で検証します。点の中心間隔だけでなく、照射径、測距値のばらつき、取得率、入射角、位置合わせ後の表面の厚みまで確認することが大切です。計測後も、過度な平滑化や補間によって微細形状を失わないよう、原データと処理履歴を保存します。 TLSで要求される細部を再現できない場合は、別の近接計測を組み合わせ、TLS点群を全体座標の骨格として利用します。こうした役割分担によって、彫刻の細部と建物内での位置関係を両立した記録を構築できます。 現場で取得した点群や位置情報を確認しながら、補足計測や記録作業を機動的に進めたい場合は、携帯しやすい計測手段を組み合わせる方法もあります。文化財の管理条件と必要精度を確認したうえで、現地計測からデータ共有までを支援する選択肢としてLRTK Phoneの活用も検討してみてください。